[发明专利]密封件测试装置有效
| 申请号： | 202111282930.7 | 申请日： | 2021-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN114088556B | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 郭飞;陈齐垚;项冲;黄毅杰;程甘霖;张帆;贾晓红 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N3/40 | 分类号： | G01N3/40;G01N3/06;G01M13/005;G01M13/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 宋兴;臧建明 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开实施例属于密封件测试技术领域，具体涉及一种密封件测试装置。本公开实施例旨在解决相关技术中密封件上压痕形成过程获取不准确的问题。本公开实施例的密封件测试装置包括用于安装密封件和密封配合件的位移结构，位移结构能够驱动密封件和密封配合件反复接触和分离，模拟工件反复启闭时密封件和密封配合件反复接触和分离的过程；位移结构上设置的图像获取设备能够实时获取密封件和密封配合件接触和分离时的图像，测试不同预设条件下密封件表面压痕的形成过程。 | ||
| 搜索关键词： | 密封件 测试 装置 | ||
【主权项】：
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