[发明专利]一种参数测试方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202111289609.1 | 申请日： | 2021-11-02 |
| 公开（公告）号： | CN114077542A | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 马超;许德玉;周鹏;黄秋元 | 申请（专利权）人： | 武汉普赛斯电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 | 代理人： | 黄君军 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道3*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种参数测试方法、装置、电子设备及存储介质，其方法包括：构建相互分离的参数测试软件、算法代码文件以及滤波代码文件；在参数测试软件启动后，加载算法代码文件，判断算法代码文件是否是初始化加载；若算法代码文件是初始化加载，算法代码文件根据预设滤波代码文件加载逻辑加载滤波代码文件，并在加载完滤波代码文件后，加载采样参数，通过算法代码文件对采样参数进行测试，得到测试结果；若算法代码文件不是初始化加载，则加载采样参数，通过算法代码文件对采样参数进行测试，得到测试结果，将测试结果输出至参数测试软件。本发明提高了参数测试软件的升级和维护效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 参数 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉普赛斯电子技术有限公司，未经武汉普赛斯电子技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111289609.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
