[发明专利]气密性检测设备及其工艺在审
申请号: | 202111292244.8 | 申请日: | 2021-11-03 |
公开(公告)号: | CN114112222A | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
发明(设计)人: | 张和毅 | 申请(专利权)人: | 上海贤日测控科技有限公司 |
主分类号: | G01M3/20 | 分类号: | G01M3/20 |
代理公司: | 上海上谷知识产权代理有限公司 31342 | 代理人: | 陈程 |
地址: | 201611 上海市松*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种气密性检测设备及其工艺,该设备包括:真空箱、多个封闭件、检测管路、多个阀门、真空源以及检漏仪。真空箱具有多个分体腔以及与多个分体腔相连的通腔,分体腔用于放置待检测工件并具有连通通腔的开口。封闭件与分体腔数量相同,且一一对应设置,各封闭件可操作地密封对应的分体腔的开口。检测管路具有主管道、以及多个与主管道相连的分管道,多个分管道与多个分体腔一一对应设置,且各分管道用于连接至对应的分体腔内的待检测工件上。阀门与分管道数量相同,且一一对应,各阀门用于连通或断开其所在的分管道和主管道。真空源与通腔相连。检漏仪与通腔相连。本发明既可提升检测效率,又可判断具体的不合格工件。 | ||
搜索关键词: | 气密性 检测 设备 及其 工艺 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海贤日测控科技有限公司,未经上海贤日测控科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202111292244.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体器件的形成方法
- 下一篇:家庭网关的下载性能提升方法和装置