[发明专利]一种光电测量系统的荧光光纤激发效率计算方法在审
| 申请号： | 202111298011.9 | 申请日： | 2021-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN114034675A | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | 朱旭亮;张晶;何金;曹梦;陈荣;宋晓博;李松原;邢向上 | 申请（专利权）人： | 国网天津市电力公司电力科学研究院;国网天津市电力公司;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人： | 王来佳 |
| 地址： | 300384 *** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种光电测量系统的荧光光纤激发效率计算方法，其技术特点是：选取荧光光纤的光纤包层材料的光折射系数、纤芯材料的光折射系数、待测光波长、放电发射光谱约化强度分布、荧光激发光谱约化强度分布，计算光子引起的荧光激发强度；计算光纤对光子的捕获效率；计算荧光裸光纤对放电光辐射的激发效率；计算光纤的整体激发效率。本发明设计合理，其计算准确，可将其应用于电力设备局部放电检测等的光电测量系统的光纤选型和光纤荧光物质掺杂等系统开发和参数优化工作，适用于电力设备状态监测和故障诊断领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 测量 系统 荧光 光纤 激发 效率 计算方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国网天津市电力公司电力科学研究院;国网天津市电力公司;国家电网有限公司，未经国网天津市电力公司电力科学研究院;国网天津市电力公司;国家电网有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111298011.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种OLED器件及OLED显示装置
- 下一篇：一种具有应激装置的人脸识别装置
