[发明专利]一种薄膜制备方法及光电探测器在审

专利信息
申请号: 202111301989.6 申请日: 2021-11-04
公开(公告)号: CN114122192A 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 朱元昊;陈明;杨春雷;陈志勇;严振;徐泽林 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L21/02
代理公司: 北京市诚辉律师事务所 11430 代理人: 刘婷;朱伟军
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请属于光电探测技术领域,特别是涉及一种薄膜制备方法及光电探测器。现有的光电探测器上的薄膜光利用效率低,限制了光电探测器的性能。本申请提供了一种薄膜制备方法,在温度小于250℃的条件下,通过加热锡材料源和硒材料源,使得锡和硒蒸发后在衬底上纵向生长形成半导体纳米片阵列薄膜。SnSe2二维薄膜材料直立式V型结构,其陷光效应十分显著,光利用效率极大地增强,对340nm至650nm波长的光的吸收超过90%,可有效提高探测器的光响应度及外量子效率。
搜索关键词: 一种 薄膜 制备 方法 光电 探测器
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院深圳先进技术研究院,未经中国科学院深圳先进技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202111301989.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top