[发明专利]耦合磁成像装置及测量方法在审
| 申请号： | 202111311579.X | 申请日： | 2021-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN114113151A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 石发展;徐瑶;李万和;陈三友;王鹏飞;孙梓庭;蔡明诚;杜江峰 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01N22/00 | 分类号： | G01N22/00;G01N27/72 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 孙蕾 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种耦合磁成像装置及测量方法，该装置包括：样品台、微波装置、激光装置和外磁场装置，样品台包括棱镜、金刚石，金刚石固定于棱镜正上方，样品台采用金刚石中的氮空位缺陷作为量子磁传感器；微波装置包括微波信号发生器和中心对称的辐射结构，微波信号发生器用于发射微波信号，辐射结构用于接收所述微波信号，并作为微波天线向金刚石的氮空位缺陷辐射微波磁场；激光装置用于发射中心波长为532nm的激光，激光以一定角度入射棱镜；外磁场装置位于样品台上方，与样品台的竖直方向呈一定角度，用于向金刚石的氮空位缺陷提供稳定磁场；其中，样品台以插件模式耦合于光学显微镜。 | ||
| 搜索关键词： | 耦合 成像 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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