[发明专利]基于CMOS传感器的激光增材形貌在线检测补偿方法在审

专利信息
申请号: 202111312653.X 申请日: 2021-11-08
公开(公告)号: CN113884013A 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 刘伟军;李啸;卞宏友;邢飞;李强;王慧儒 申请(专利权)人: 沈阳工业大学
主分类号: G01B11/03 分类号: G01B11/03;G01B11/24
代理公司: 沈阳智龙专利事务所(普通合伙) 21115 代理人: 宋铁军
地址: 110870 辽宁省沈阳*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种CMOS传感器的激光增材形貌在线检测补偿装置,属于金属工件激光增材制造技术领域,该装置的底部为底座,底座的上方设有工件基板,工件基板的上方设有沉积工件,沉积工件的一侧设有立柱,立柱上水平的设置激光增材制造机构,激光增材制造机构上垂直的设有激光连杆,激光连杆的底部设有激光熔覆头,激光连杆靠近底部设有测量单元支架,测量单元支架上连接有测量单元。
搜索关键词: 基于 cmos 传感器 激光 形貌 在线 检测 补偿 方法
【主权项】:
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