[发明专利]透射测试装置、信噪比测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 202111313692.1 申请日: 2021-11-08
公开(公告)号: CN114066832A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 白丽莎;张悦强;叶红波;温建新 申请(专利权)人: 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/00
代理公司: 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 代理人: 黄海霞
地址: 201800 上海市嘉定*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种透射测试装置,包括至少一个透射测试单元,所述透射测试单元包括第一透射测试子单元、第二透射测试子单元和第三透射测试子单元,所述第一透射测试子单元和所述第二透射测试子单元相接触,且均设置于所述第三透射测试子单元上,所述第一透射测试子单元的光学密度与所述第三透射测试子单元的光学密度的差等于所述第三透射测试子单元的光学密度与所述第二透射测试子单元的光学密度的差,且所述第三透射测试子单元的光学密度与所述第二透射测试子单元的光学密度的差小于或等于0.3,便于通过对比度获得信噪比,减少了HDR融合与色调映射不单调对信噪比的影响。本发明还有提供了一种信噪比测试系统及测试方法。
搜索关键词: 透射 测试 装置 系统 方法
【主权项】:
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