[发明专利]一种基于光梳的高精度激光光谱测距方法在审

专利信息
申请号: 202111319796.3 申请日: 2021-11-09
公开(公告)号: CN114019525A 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 曾和平;葛锦蔓;温兆阳;闫明;李小军 申请(专利权)人: 华东师范大学重庆研究院;华东师范大学;上海朗研光电科技有限公司
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10;G01S7/481;G01D21/02
代理公司: 重庆信航知识产权代理有限公司 50218 代理人: 穆祥维
地址: 401121*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明提供一种基于光梳的高精度激光光谱测距方法,包括如下步骤:S1、利用双光梳法测量目标脉冲飞行时间;S2、对双光梳干涉信号数据进行傅立叶变换,获取光谱信息;S3、对信号光谱进行归一化处理和吸收峰拟合;S4、通过吸收光谱计算光路径中的大气温度和气体压力;S5、利用所得的大气温度和气体压力,对光路径中的空气折射率进行修正,得到修正后的空气折射率;S6、根据修正后的空气折射率,计算目标距离。本发明利用光梳光谱范围宽的特点,在光梳脉冲飞行时间测距的基础上,同时实现大气中水分子吸收谱线的测量,利用谱线拟合得到大气温度与气体压力信息,实时修正空气折射率,提升测距精度,解决了现有大气不确定性导致测距精度差的问题。
搜索关键词: 一种 基于 高精度 激光 光谱 测距 方法
【主权项】:
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