[发明专利]一种基于高次谐波的极紫外光刻曝光方法在审

专利信息
申请号: 202111325361.X 申请日: 2021-11-10
公开(公告)号: CN113835313A 公开(公告)日: 2021-12-24
发明(设计)人: 徐永兵;陈笑;黎遥;严羽;周建;钟文彬;何亮;陆显扬 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 陈建和
地址: 210093 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种基于高次谐波的极紫外光刻曝光方法,1)使用飞秒级的强场激光与工作介质相互作用产生高次谐波;2)反应产生的高次谐波复色光通过过滤选取谐波级次,即用于测试的波长所在的谐波级次,从而得到测试波长的纯净极紫外光;3)极紫外光通过狭缝进入曝光装置,对涂敷光刻胶的晶圆样品进行曝光,将掩模版的图案转移到样品表面,通过累积曝光时间来达到光刻胶所需的曝光剂量。所述用于曝光的极紫外光基于高次谐波技术产生。纯净的极紫外光进入曝光装置,使涂有光刻胶的硅片曝光,通过累积曝光时间的方式达到光刻胶所需的曝光剂量。
搜索关键词: 一种 基于 谐波 紫外 光刻 曝光 方法
【主权项】:
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