[发明专利]一种基于高次谐波的极紫外光刻曝光方法在审
申请号: | 202111325361.X | 申请日: | 2021-11-10 |
公开(公告)号: | CN113835313A | 公开(公告)日: | 2021-12-24 |
发明(设计)人: | 徐永兵;陈笑;黎遥;严羽;周建;钟文彬;何亮;陆显扬 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 陈建和 |
地址: | 210093 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种基于高次谐波的极紫外光刻曝光方法,1)使用飞秒级的强场激光与工作介质相互作用产生高次谐波;2)反应产生的高次谐波复色光通过过滤选取谐波级次,即用于测试的波长所在的谐波级次,从而得到测试波长的纯净极紫外光;3)极紫外光通过狭缝进入曝光装置,对涂敷光刻胶的晶圆样品进行曝光,将掩模版的图案转移到样品表面,通过累积曝光时间来达到光刻胶所需的曝光剂量。所述用于曝光的极紫外光基于高次谐波技术产生。纯净的极紫外光进入曝光装置,使涂有光刻胶的硅片曝光,通过累积曝光时间的方式达到光刻胶所需的曝光剂量。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 谐波 紫外 光刻 曝光 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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