[发明专利]一种制备梯度纳米结构材料透射电镜样品的装置和方法在审
| 申请号： | 202111347165.2 | 申请日： | 2021-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN114062081A | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 阳琳;刘亿;胡钊华;许梦凝;王帅卓;高波;肖礼容;周浩 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学;鞍钢集团北京研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N23/04;G01N23/20008 |
| 代理公司： | 北京鹏帆慧博知识产权代理有限公司 11903 | 代理人： | 刘琳 |
| 地址： | 210000 江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于材料测试领域，特别是一种制备梯度纳米结构材料透射电镜样品的装置和方法，所述的装置包括用于透射电镜样品制备的三脚平衡研磨台装置，主要包括精密千分尺、千分尺支撑脚、楔形圆柱固定器、液泡水平仪以及带有3°坡度的楔形圆柱。精密千分尺、千分尺支撑脚和液泡水平仪用于测量其与样品的水平关系、厚度差异测量，楔形圆柱固定器用于固定需要研磨厚度的样品，带有3°坡度的楔形圆柱用于粘接厚度均匀态梯度纳米结构材料样品。所示的方法包含均匀薄片粘接、楔形样品制备、离子减薄制备三步工序。将样品固定在楔形圆柱的斜坡面上，使其梯度组织方向的边缘粘接在斜坡面与水平面的交线区域；通过往复研磨的方式对样品进行研磨，获得厚度不均匀态梯度纳米结构材料样品；采用离子减薄法对样品进行减薄，获得可供透射电镜观察的厚度不均匀态梯度纳米结构材料透射电镜样品。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 制备 梯度 纳米 结构 材料 透射 样品 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京理工大学;鞍钢集团北京研究院有限公司，未经南京理工大学;鞍钢集团北京研究院有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111347165.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
