[发明专利]一种微小压力光学测量方法与校准装置在审

专利信息
申请号: 202111349631.0 申请日: 2021-11-15
公开(公告)号: CN114112172A 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 谢兴娟;杨军;李博;田森 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
主分类号: G01L11/02 分类号: G01L11/02;G01L27/00
代理公司: 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 代理人: 王松
地址: 100095*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开的一种微小压力光学测量方法与校准装置,属于计量测试技术领域。本发明主要由振动台、活塞、变容积机构、压力测试腔、激光干涉测量系统和控制系统组成。压力测试腔与变容积机构连接,振动台与活塞杆连接,活塞杆深入变容积机构内,振动台运动驱动变容积机构使其内压力腔容积变化,同时带动压力测试腔内的压力产生变化。利用激光干涉光学系统实现微小压力的高精度溯源,其中压力测试腔内有多个高反射面,通过对入射光的多次反射,增加腔内激光传输路径,在小尺寸压力腔内增大测量光程,解决腔长尺寸和压力稳定性、动态响应之间的矛盾,提高压力测量的灵敏度和精度,能够实现针对微小静态或动态压力的精确测量和校准。
搜索关键词: 一种 微小 压力 光学 测量方法 校准 装置
【主权项】:
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