[发明专利]IC测试装置在审
| 申请号： | 202111361197.8 | 申请日： | 2021-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN114264929A | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | 孙炎俊;胡昊;刘治震 | 申请（专利权）人： | 杭州长川科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 戴贤群 |
| 地址： | 310051 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种IC测试装置，包括检测平台和测试机构，测试机构包括水平驱动系统、竖直驱动系统和测试压头。竖直驱动系统包括固定架、竖直电机、竖直丝杆、竖直螺母和压杆，固定架固定在水平驱动系统上，竖直丝杆沿竖直方向设置且可转动地安装于固定架上，竖直电机连接竖直丝杆以驱动竖直丝杆转动，竖直螺母套设于竖直丝杆外侧并与竖直丝杆螺纹配合，压杆套设于竖直丝杆外侧并固定连接竖直螺母，测试压头连接于压杆的一端，且测试压头与竖直丝杆同轴设置。测试压头对IC进行下压测试时，测试压头受到的两个力同轴且方向相反，消除了测试压头受到的弯矩负载，使得IC测试压力均匀分布，从而避免了测试压头结构变形倾斜的问题。 | ||
| 搜索关键词： | ic 测试 装置 | ||
【主权项】：
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