[发明专利]调试信息存取方法及其电子设备在审

专利信息
申请号: 202111366422.7 申请日: 2021-11-18
公开(公告)号: CN114237949A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 江超;高彭 申请(专利权)人: 合肥沛睿微电子股份有限公司
主分类号: G06F11/07 分类号: G06F11/07
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 李有财
地址: 230012 安徽省合肥市新站区文*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 本申请公开了一种调试信息存取方法及其电子设备。调试信息存取方法包括:开启主控芯片内部的调试信息引擎模块,以采集调试信息引擎模块相连接的调试接口所输出的有效波形信号,并转化为调试波形数据;当触发条件满足时将调试波形数据存储到主控芯片外接的非易失性存储器,并于存储一定量的调试波形数据后停止采集有效波形信号;及接收来自主机的读取命令后,读取非易失性存储器所存储的调试波形数据,并将读取的调试波形数据发送给主机。因此,解决主控芯片没有预留与外部逻辑分析仪连接的调试接口,而存在无法分析主控芯片内部的信号进行排错的问题。
搜索关键词: 调试 信息 存取 方法 及其 电子设备
【主权项】:
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