[发明专利]SDK测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202111388321.X | 申请日： | 2021-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN116149977A | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 何超;吴婷;汪志成;杨蓬博;郑希文 | 申请（专利权）人： | 北京字跳网络技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 上海光栅知识产权代理有限公司 31340 | 代理人： | 王沛懿;马雯雯 |
| 地址： | 100190 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开实施例提供一种SDK测试方法、装置、电子设备及存储介质，通过在检测到调用指令时，获取调用指令对应的调用信息，其中，调用指令用于表征目标应用对目标SDK的调用请求，调用信息用于表征调用请求的调用参数；对调用信息进行保存，生成测试文件，测试文件用于对目标调用接口进行测试。由于在目标应用运行过程中，通过获取目标应用对SDK的调用信息，并进行保存，生成测试文件，实现了测试文件的预录制，从而在之后的测试过程中，可以基于测试文件进行回归测试，避免业务因素的干扰，且无需手动构建测试程序进行测试，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | sdk 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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