[发明专利]一种半显影干膜法实现精细线路的蚀刻方法在审

专利信息
申请号: 202111394712.2 申请日: 2021-11-23
公开(公告)号: CN113993288A 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 韩少华;陆文;王健 申请(专利权)人: 上达电子(深圳)股份有限公司
主分类号: H05K3/06 分类号: H05K3/06
代理公司: 徐州市三联专利事务所 32220 代理人: 张帅
地址: 518100 广东省深圳市宝安区沙井街道黄*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种半显影干膜法实现精细线路的蚀刻方法,属于线路蚀刻技术领域。包括步骤:在基材的铜层上贴覆干膜;利用半显影工艺对干膜进行减薄;对贴覆的干膜进行曝光、显影、蚀刻、剥膜处理,完成精细线路的形成。所述的半显影工艺处理的干膜为正性干膜的情况下,通过整板显影,对干膜进行减薄。本发明的有益效果是:半显影干膜法提升了干膜解析度,生产产品线路更精细,提升产品竞争力;干膜价格便宜,降低产品生产成本;半显影干膜法使用干膜贴覆工艺,相较涂布光刻胶工艺设备简单,价格低廉,生产难度降低。
搜索关键词: 一种 显影 干膜法 实现 精细 线路 蚀刻 方法
【主权项】:
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