[发明专利]一种硒鼓老化测试仪在审
申请号: | 202111401521.4 | 申请日: | 2021-11-22 |
公开(公告)号: | CN113984368A | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
发明(设计)人: | 苏春开 | 申请(专利权)人: | 珠海市椿升自动化科技有限公司 |
主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00 |
代理公司: | 广东中衢知识产权代理事务所(普通合伙) 44755 | 代理人: | 郎坚 |
地址: | 519000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种硒鼓老化测试仪,包括底座,底座设置有控制箱,控制箱内安装有控制电路和供气装置,底座安装有硒鼓座,硒鼓座设有硒鼓槽,硒鼓槽的一端设有驱动口,硒鼓座旁安装有滑轨和测试气缸,测试气缸与供气装置管道连接,滑轨上设置有滑块座,测试气缸与滑块座连接,滑块座安装有与控制电路电性连接的电机,电机设置有旋转接头;测试气缸将电机推至硒鼓旁,使电机上的旋转接头与硒鼓槽内硒鼓内的零部件传动连接,电机带动硒鼓内的零部件旋转,以测试硒鼓内的零部件在旋转所预设的圈数后是否能正常工作;本发明属于硒鼓测试的技术领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 硒鼓 老化 测试仪 | ||
【主权项】:
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