[发明专利]一种可实现校准和去嵌入技术的波导端口测试夹具在审

专利信息
申请号: 202111401750.6 申请日: 2021-11-24
公开(公告)号: CN114113691A 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 胡江;傅香渝;周扬帆;刘林杰;乔志壮;郭丰强;侯耀伟 申请(专利权)人: 电子科技大学;中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02;G01R31/00
代理公司: 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 代理人: 王伟
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种可实现校准和去嵌入技术的波导端口测试夹具,包括结构相同的第一测试夹具和第二测试夹具,第一测试夹具和第二测试夹具的上表面和一个侧面上分别设有法兰盘,每个测试夹具上表面和侧面的法兰盘通过测试夹具内部的L型波导连接;第一测试夹具和第二测试夹具的法兰盘用于连接矢量网络分析仪或被测件。本发明将校准和去嵌入应用到波导端口测试夹具,通过校准的方法将测试端面移动到被测件的端面,或者通过去嵌入的方法去掉夹具的影响,就可以得到被测件的真实测试结果。同时将波导端口测试夹具分为两个部分,同一组夹具可应用到处于同一平面不同位置的波导端口被测件。
搜索关键词: 一种 实现 校准 嵌入 技术 波导 端口 测试 夹具
【主权项】:
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