[发明专利]智能设备的内存校验方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202111405161.5 | 申请日： | 2021-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN114116287A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 郝正辉 | 申请（专利权）人： | 上海闻泰信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/07 | 分类号： | G06F11/07;G06F9/50 |
| 代理公司： | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人： | 王艳斌 |
| 地址： | 200062 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及数据处理技术领域，提供了一种智能设备的内存校验方法、装置、电子设备和存储介质。所述方法包括：获取智能设备中的多个目标文件；将所述多个目标文件映射到所述智能设备的内存中，并针对映射后的多个目标文件分别计算第一校验值；重新将所述多个目标文件映射到所述内存中，并针对映射后的多个目标文件分别计算第二校验值，对各目标文件的所述第二校验值与所述第一校验值进行比较；重复执行上述映射和计算步骤，直至满足预设的停止条件，根据所述第二校验值与所述第一校验值的比较结果确定内存校验结果。采用本方法能够提高内存校验效率。 | ||
| 搜索关键词： | 智能 设备 内存 校验 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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