[发明专利]一种胶接制样结构在审

专利信息
申请号: 202111416035.X 申请日: 2021-11-25
公开(公告)号: CN114088495A 公开(公告)日: 2022-02-25
发明(设计)人: 夏焕雄;刘检华;郭磊;尹浩杰;敖晓辉;张秀敏;巩浩 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 廖叶子
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种胶接制样结构,胶接制样结构包括:底盘,形成有一容置空间;第一基板和第二基板,设置于容置空间内,且第一基板的第一区域与第二基板的第一区域通过胶层连接,第一基板的第二区域与第二基板的第二区域之间设置有垫片;压紧组件,压紧组件可拆卸地安装于底盘的顶面上,用于向第一基板和第二基板施加压力;其中,压紧组件抵压第一基板和第二基板的部分表面,第一基板和第二基板之间的垫片和胶层均露出;底盘上穿设压紧螺栓,压紧螺栓抵压第一基板,用于向第一基板施加压力,使得第一基板压紧第二基板。上述方案,通过底盘和压紧组件对基板进行限位,提高了制样效率和制样质量,特别适用于尺寸精度要求较高的测试过程。
搜索关键词: 一种 胶接制样 结构
【主权项】:
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