[发明专利]一种反射率的测量方法、激光雷达装置及存储介质在审
| 申请号： | 202111416910.4 | 申请日： | 2021-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN116165169A | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 王泮义;李翔;李雪;张雪薇 | 申请（专利权）人： | 武汉万集光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47;G01S17/02 |
| 代理公司： | 深圳德高智行知识产权代理事务所(普通合伙) 44696 | 代理人： | 李昕 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种反射率的测量方法、激光雷达装置及存储介质，所述反射率的测量方法包括：获取激光雷达装置与被测物体之间的间距及回波信号的特征参数；获取第一预设特征关系式；根据所述第一预设特征关系式计算被测物体的反射率；其中，所述第一预设特征关系式为预先存储的所述特征参数与所述反射率的对应关系式。无需被测物体多次移动获得不同的距离，基于获取的第一预设特征关系式，根据特征参数及间距直接计算得到被测物体在任意距离下的反射率，该测量方法简单，标定过程简单，提高被测物体表面反射率的测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 反射率 测量方法 激光雷达 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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