[发明专利]一种基于同轴投影的光场相机三维测量装置及系统有效

专利信息
申请号: 202111421135.1 申请日: 2021-11-26
公开(公告)号: CN114111626B 公开(公告)日: 2023-08-22
发明(设计)人: 吴庆阳;张志俊;邓亦锋;蒋逸凡;张莉颖 申请(专利权)人: 深圳技术大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 深圳尚业知识产权代理事务所(普通合伙) 44503 代理人: 王利彬
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于同轴投影的光场相机三维测量装置及系统,该装置包括光源,用于发射平行光;投影件,沿第一光路设置于光源的后方,用于将平行光变为编码结构光;半透半反镜片,沿第一光路设置于投影件的后方并与投影件形成设定夹角,以用于反射或透射编码结构光;主透镜组,沿第一光路设置于半透半反镜片的后方,以用于沿第一光路透射编码结构光,以照射在待测量物体上,还用于沿第二光路透射编码结构光,以使编码结构光在第二光路上到达待测量物体的中继像位置;二次成像装置,沿第二光路设置于中继像位置的后方,并与待测量物体的中继像为物像关系,以用于对中继像进行二次成像。利用该光场相机三维测量装置能够提高远距离三维测量的精度。
搜索关键词: 一种 基于 同轴 投影 相机 三维 测量 装置 系统
【主权项】:
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