[发明专利]一种基于极大后验估计的多粗差探测方法、装置及介质有效
| 申请号： | 202111437156.2 | 申请日： | 2021-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN114117802B | 公开（公告）日： | 2023-09-26 |
| 发明（设计）人： | 杨玲;喻杨康;孙楠 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F17/16 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 杨元焱 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于极大后验估计的多粗差探测方法、装置及介质，方法包括：获取观测值向量，根据观测值向量建立观测模型；构造零假设和若干个备择假设，所述的零假设表示观测值向量中不存在粗差，每个备择假设对应一个粗差先验分布模型；检验是否接收零假设，若是判定观测值向量中不存在粗差，否则根据观测模型和粗差先验分布模型获取各个备择假设的后验概率，选取后验概率最大的备择假设作为最优备择假设；根据最优备择假设对应的粗差先验分布模型确定观测值向量中粗差的数量和位置。与现有技术相比，本发明有助于处理过拟合问题，从而提高粗差探测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 极大 估计 多粗差 探测 方法 装置 介质 | ||
【主权项】：
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