[发明专利]基于光纤光栅传感器在低采样率下的冲击定位方法及系统有效
| 申请号： | 202111437873.5 | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN114111579B | 公开（公告）日： | 2023-06-02 |
| 发明（设计）人： | 洪流;廖文林;张浩;张龙;丁洋洋 | 申请（专利权）人： | 武汉理工大学;中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01L1/24;G06F17/10;G06F17/16;G06F30/23;G06F111/10 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 严彦 |
| 地址： | 430070 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种基于光纤光栅传感器在低采样率下的冲击定位方法及系统，通过光纤光栅传感器做结构的冲击测试得到各个应变采集点的应变数据；将有理分式多项式拟合RFP和传递率法结合，运行模态分析方法OMA对应变数据进行处理，得到离散的应变模态振型；通过有限元分析得到的应变模态振型对测试得到的离散振型进行平滑和扩张得到完整的模态振型的数据；再通过模态叠加法将有限阶的模态振型进行叠加得到理论上结构在受到外界冲击后的响应；对理论上的各个冲击的响应进行运行模态分析得到各阶振型的留数并建立留数数据库；最后通过模态参数识别和模态留数匹配法确定冲击载荷的位置，实现精确识别材料受到外界冲击的目标。本发明减少了传感器数量和冲击试验次数。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光纤 光栅 传感器 采样率 冲击 定位 方法 系统 | ||
【主权项】：
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