[发明专利]一种单晶FBAR压电薄膜及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111442142.X 申请日: 2021-11-30
公开(公告)号: CN114362704A 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 董树荣;轩伟鹏;刘刚;金浩;高峰;骆季奎 申请(专利权)人: 浙江大学杭州国际科创中心
主分类号: H03H3/02 分类号: H03H3/02;H03H9/17
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 胡红娟
地址: 311200 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种空腔薄膜体声波谐振器,包括第一衬底、键合层、不透明介质层、压电振荡堆和金属pad层;其中,第一衬底上形成键合层,键合层上形成不透明介质层,不透明介质层上形成压电振荡堆,不透明介质层与压电振荡堆之间具有空腔,金属pad层与压电振荡堆相连。该谐振器表面粗糙度较低,同时该薄膜各区域厚度能够被较为方便和准确的测量。本发明还公开了一种空腔薄膜体声波谐振器的制备方法,该制备方法节省制备工序,简单、高效。
搜索关键词: 一种 fbar 压电 薄膜 及其 制备 方法
【主权项】:
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