[发明专利]一种低应力GaN基发光二极管外延片及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111446395.4 申请日: 2021-11-30
公开(公告)号: CN114141917A 公开(公告)日: 2022-03-04
发明(设计)人: 闫其昂;王国斌 申请(专利权)人: 江苏第三代半导体研究院有限公司
主分类号: H01L33/12 分类号: H01L33/12;H01L33/14;H01L33/32;H01L33/06;H01L33/00
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 赵世发
地址: 215000 江苏省苏州市工业园区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种低应力GaN基发光二极管外延片及其制备方法。所述外延片包括沿指定方向依次设置的衬底、低温GaN缓冲层、高温非掺杂GaN层、n型GaN层、n型AlInN前势垒层、浅发光层、n型AlInN后势垒层、预发光层、多量子阱层发光层、低温p型GaN层、p型AlGaN电子阻挡层和高温p型GaN层,所述n型AlInN前势垒层至少用于阻挡电子向所述n型GaN层回流。本发明中的低应力GaN基发光二极管外延片,通过高低掺杂的AlInN前势垒层形成高的能垒,能够阻挡电子回流,形成电子有效注入,同时通过AlInN后势垒层实现发光层的晶格匹配,降低极化效应,增强辐射复合发光,提高二极管的发光效率。
搜索关键词: 一种 应力 gan 发光二极管 外延 及其 制备 方法
【主权项】:
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