[发明专利]一种刻度标定方法及可调任意比例的制图尺在审

专利信息
申请号: 202111449409.8 申请日: 2021-12-01
公开(公告)号: CN113910817A 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 欧宝山;张凯蓉;王山山;朱思征 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: B43L13/10 分类号: B43L13/10
代理公司: 上海邦德专利代理事务所(普通合伙) 31312 代理人: 刘旭章
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提出一种刻度标定方法及可调任意比例的制图尺,基于相似三角形的原理,在比例图带上绘制多条刻度线;0刻度线上标记有比例刻度,比例刻度为1.0作为标准比例;多条刻度线在任意比例处均等间距排布;相邻的刻度线之间的间距自标准比例处向两端按照比例刻度的数值放大或者缩小;即相邻的两条刻度线在任意比例刻度处间距的大小,比上标准比例处间距的大小为相应比例刻度的数值;使得制图尺实现连续的比例变换,在绘制图纸时,省去了计算环节,直接按原尺寸数据画线,大大提高绘图效率。
搜索关键词: 一种 刻度 标定 方法 可调 任意 比例 制图
【主权项】:
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