[发明专利]一种X射线衍射法应力仪校准方法在审
| 申请号： | 202111452961.2 | 申请日： | 2021-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN114235269A | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 冯玮;王辰辰;蔡菁;王洪博 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01L25/00 | 分类号： | G01L25/00 |
| 代理公司： | 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 | 代理人： | 王松 |
| 地址： | 100095*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开的一种X射线衍射法应力仪校准方法，属于计量测试领域。本发明实现方法为：用国标中规定尺寸和结构的无应力标准试块对应力仪进行零点标定后，对无应力标准试块进行加载；使用长度标准装置，沿着无应力标准试块表面任一方向，对试块加载前后尺寸进行测量，得到该方向上试块的应变，通过胡克定律计算此时加载中的标准试块的应力值；保持试块加载状态不变，利用X射线衍射法应力仪，测量同样加载状态下该标准试块的应力值，通过与计算得到的应力值比较，完成X射线衍射法应力仪的校准；X射线衍射法应力仪量值溯源至加载装置加载中的标准试块，溯源至实验室长度标准。本发明设备需求简便，可操作性强，能够保证测量结果的准确性和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 衍射 应力 校准 方法 | ||
【主权项】：
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