[发明专利]一种外形轮廓扫描测量装置及方法在审
| 申请号： | 202111463212.X | 申请日： | 2021-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN113865512A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 张磊;杜威;朱长彬;李雪;何江 | 申请（专利权）人： | 北京中天星控科技开发有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;F16M11/24 |
| 代理公司： | 北京隆源天恒知识产权代理有限公司 11473 | 代理人： | 鲍丽伟 |
| 地址： | 100190 北京市海淀区知*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种外形轮廓扫描测量装置及方法，外形轮廓扫描测量装置包括：试验炉，其包括炉壳，所述炉壳上设有扫描窗口；扫描测量机构，其位于所述试验炉的外部，并用于在所述扫描窗口处对所述炉壳内的待测样件的外形轮廓尺寸进行扫描测量；第一升降机构，其与所述扫描测量机构可拆卸连接，并用于驱动所述扫描测量机构进行升降运动；和旋转机构，其与所述炉壳和所述第一升降机构可拆卸连接，并用于驱动所述炉壳和所述第一升降机构转动。本发明的外形轮廓扫描测量装置能够实现动态扫描，从而可以实时记录待测样件随时间、压力、温度等附加环境下的实时状态，提高了实验数据的真实性和可靠性，使得实验结果更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 外形 轮廓 扫描 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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