[发明专利]消杂光遮光系统有效
申请号: | 202111468605.X | 申请日: | 2021-12-03 |
公开(公告)号: | CN114166340B | 公开(公告)日: | 2023-02-14 |
发明(设计)人: | 叶新;张瀚元;方伟 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01J1/02 | 分类号: | G01J1/02;G01J1/04;G02B5/00;G02B27/00 |
代理公司: | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人: | 高一明 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种消杂光遮光系统,包括在同一光轴上依次设置的一级遮光罩、二级遮光罩;一级遮光罩包括与光轴垂直设置的一级挡光环组,一级挡光环组包括M个一级挡光环,M个挡光环依次设置在一级遮光罩的镜筒内;二级遮光罩包括与光轴倾斜设置的二级挡光环组,二级挡光环组包括N个二级挡光环,N个挡光环依次设置在二级遮光罩的镜筒内。本发明所提供的消杂光遮光系统在有限的空间内将太阳离轴角为45°时,入射杂散辐射抑制到系统探测地球辐射的0.05%,具有高杂光抑制比,增加地球辐射观测时长,并且节约发射成本。 | ||
搜索关键词: | 消杂光 遮光 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202111468605.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。