[发明专利]日盲紫外光电探测器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111470865.0 申请日: 2021-12-03
公开(公告)号: CN114171634A 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 陈一仁;张志伟;周星宇;孙晓娟;黎大兵;缪国庆;蒋红;宋航 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H01L31/109 分类号: H01L31/109;C30B25/18;C30B29/40;H01L31/0224;H01L31/18
代理公司: 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 代理人: 高一明
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明提供一种日盲紫外光电探测器及其制备方法,日盲紫外光电探测器包括从下至上依次设置的基底、缓冲层、多周期薄膜层、金属叉指电极;多周期薄膜层至少为双层结构,多周期薄膜层的各层由GaN、AlxGa1‑xN和AlN中的任意两种或三种材料依次叠加构成。本发明提供的日盲紫外光电探测器及其制备方法,通过设置具有折射率差异的多层结构的多周期薄膜层,通过控制多周期薄膜层厚度、周期数实现可选择的对特定波段辐射的反射率增强,实现双波段日盲紫外光电探测的新思路,解决单一光学带隙半导体材料无法实现双波段探测的问题。
搜索关键词: 紫外 光电 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
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