[发明专利]用于校准非对称梯度伴随场校正参数的系统和方法在审
| 申请号： | 202111471641.1 | 申请日： | 2021-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN114587332A | 公开（公告）日： | 2022-06-07 |
| 发明（设计）人： | T·K·F·福;L·M·弗里戈 | 申请（专利权）人： | 通用电气精准医疗有限责任公司 |
| 主分类号： | A61B5/055 | 分类号： | A61B5/055 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 赵鹏;徐敏刚 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明题为“用于校准非对称梯度伴随场校正参数的系统和方法”。一种用于校正磁共振成像(MRI)系统中的伴随梯度场效应的方法包含使用施加到第一梯度线圈的多个第一双极性梯度波形来确定两个采集之间的多个第一相位差测量。基于多个第一相位差测量来确定第一梯度线圈常数，并且基于第一梯度线圈常数确定补偿梯度波形。补偿梯度波形连同目标梯度波形一起被施加到梯度线圈，以补偿伴随梯度场。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 校准 对称 梯度 伴随 校正 参数 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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