[发明专利]一种发射率测量装置的校准方法有效
| 申请号： | 202111474386.6 | 申请日： | 2021-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN114184569B | 公开（公告）日： | 2023-08-29 |
| 发明（设计）人： | 张宇峰;安东阳;王洋;唐增武;戴景民;刘钊;贾辉;刘文皓 | 申请（专利权）人： | 渤海大学;北京星航机电装备有限公司;哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/3563 | 分类号： | G01N21/3563 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386 | 代理人： | 岳渊渊 |
| 地址： | 121013 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明涉及一种发射率测量装置的校准方法，属于红外测试领域，解决了现有发射率测量装置校准成本高的问题。校准方法包括：根据需要得到的标准氧化膜的发射率E |
||
| 搜索关键词： | 一种 发射 测量 装置 校准 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于渤海大学;北京星航机电装备有限公司;哈尔滨工业大学，未经渤海大学;北京星航机电装备有限公司;哈尔滨工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111474386.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
