[发明专利]一种基于pq-mean分布的加工表面纹理倾斜校正方法有效

专利信息
申请号: 202111479955.6 申请日: 2021-12-07
公开(公告)号: CN113870120B 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 李小刚;孙浩然;霍晓娜;孙维方;林苏奔;冯光;卢成绩;邵正鹏;迟诚 申请(专利权)人: 领伟创新智能系统(浙江)有限公司
主分类号: G06T3/60 分类号: G06T3/60;G06T7/44;G06T7/90
代理公司: 杭州万合知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33294 代理人: 余冬
地址: 325000 浙江省温州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于pq‑mean分布的加工表面纹理倾斜校正方法,主要包括以下步骤,获取到加工表面照片后将其转换为灰度空间,分别计算图像行列方向灰度信息的稀疏测度,随后计算两者平方差绝对值,以1°为间隔,在角度范围[‑90°,90°]内,旋转图片至对应角度,并在每个旋转图片上计算其平方差绝对值,最终形成一个平方差绝对值序列,则其最大值所在角度即为加工表面纹理倾斜角度。本发明具有倾斜角度自动辨识的优点,能够利用pq‑mean的分布情况自适应地沿着表面加工方向进行倾斜状态的校正。
搜索关键词: 一种 基于 pq mean 分布 加工 表面 纹理 倾斜 校正 方法
【主权项】:
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