[发明专利]一种基于pq-mean分布的加工表面纹理倾斜校正方法有效
申请号: | 202111479955.6 | 申请日: | 2021-12-07 |
公开(公告)号: | CN113870120B | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
发明(设计)人: | 李小刚;孙浩然;霍晓娜;孙维方;林苏奔;冯光;卢成绩;邵正鹏;迟诚 | 申请(专利权)人: | 领伟创新智能系统(浙江)有限公司 |
主分类号: | G06T3/60 | 分类号: | G06T3/60;G06T7/44;G06T7/90 |
代理公司: | 杭州万合知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33294 | 代理人: | 余冬 |
地址: | 325000 浙江省温州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于pq‑mean分布的加工表面纹理倾斜校正方法,主要包括以下步骤,获取到加工表面照片后将其转换为灰度空间,分别计算图像行列方向灰度信息的稀疏测度,随后计算两者平方差绝对值,以1°为间隔,在角度范围[‑90°,90°]内,旋转图片至对应角度,并在每个旋转图片上计算其平方差绝对值,最终形成一个平方差绝对值序列,则其最大值所在角度即为加工表面纹理倾斜角度。本发明具有倾斜角度自动辨识的优点,能够利用pq‑mean的分布情况自适应地沿着表面加工方向进行倾斜状态的校正。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 pq mean 分布 加工 表面 纹理 倾斜 校正 方法 | ||
【主权项】:
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