[发明专利]芯片验证过程中的故障处理方法、装置和电子设备在审
| 申请号： | 202111484629.4 | 申请日： | 2021-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN114356681A | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 索健;王正 | 申请（专利权）人： | 北京爱芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 单冠飞 |
| 地址： | 100190 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种芯片验证过程中的故障处理方法、装置和电子设备，包括：在芯片验证过程中进行故障识别，响应于识别到故障，获取故障的故障信息；确定与故障信息匹配的目标故障调试策略；执行目标故障调试策略，对故障进行故障调试；响应于故障调试结束，从故障的位置点继续进行芯片验证过程。本申请中，实现了对芯片验证过程中的故障调试，避免了对芯片验证对应的源代码的修改以及对修改后的源代码的重新仿真，有效缩短了芯片验证过程中的故障修复时间，进而提高了芯片验证的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 过程 中的 故障 处理 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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