[发明专利]电子元器件寿命预测方法、装置、计算机设备和存储介质有效
| 申请号： | 202111495488.6 | 申请日： | 2021-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN113901675B | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | 刘树强;何亮;余思达;蔡金宝 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F119/04 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 左帮胜 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种电子元器件寿命预测方法、装置、计算机设备和存储介质。包括：确定标准电子元器件的特性参数和第一工况条件；获取预设温度下的标准电子元器件的第一试验寿命；确定标准电子元器件的加速倍数；获取待预测电子元器件的第二工况条件，根据标准电子元器件的加速倍数、第二工况条件、待预测电子元器件的特性参数，确定使待预测电子元器件的加速倍数与标准电子元器件的加速倍数相等时的试验温度；根据第一工况条件和第二工况条件，确定工况差异倍数；根据第一试验寿命和工况差异倍数，确定待预测电子元器件在试验温度下的第二试验寿命。从而能够预测其他工况的电子元器件的寿命，缩短了试验时间，节省了试验成本。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 寿命 预测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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