[发明专利]测试用例复用方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202111496636.6 | 申请日： | 2021-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN114265767A | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | 喻妍;何渝君;方清;张磊;邬明罡 | 申请（专利权）人： | 瀚云科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 杨奇松 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡市无锡新区新*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请提供一种测试用例复用方法、装置、电子设备及存储介质，涉及计算机技术领域。本申请提供的测试用例复用方法包括：获取测试用例，其中，所述测试用例包括测试用例所对应的测试用例步骤、以及参数；通过关键字封装所述测试用例获得封装后的测试用例，其中，所述关键字包括预设判断条件和与所述测试用例相关的后续测试的测试用例的编号，所述预设判断条件包括所述参数和预设基准值；以及检测对所述封装后的测试用例的调用，并在检测到对其调用时，按照所述预设判断条件，确定调用的所述后续测试的测试用例的编号。本申请提供的测试用例复用方法可以解决自动化测试中调用测试用例效率低下的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 用例复用 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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