[发明专利]功率半导体器件及其制备方法在审
申请号: | 202111500478.7 | 申请日: | 2021-12-09 |
公开(公告)号: | CN114141879A | 公开(公告)日: | 2022-03-04 |
发明(设计)人: | 周源;王超;胡磊;邢岳;杨棂鑫;王振达;罗胡瑞 | 申请(专利权)人: | 北京燕东微电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 北京科慧致远知识产权代理有限公司 11739 | 代理人: | 王乾旭;赵红凯 |
地址: | 100176 北京市大兴区北京经*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请实施例提供了一种功率半导体器件及其制备方法。该功率半导体器件包括:依次层叠设置的第一电极层、半导体基板以及第一层间介质层,半导体基板中设有体区,体区中设有掺杂区;第一沟槽、第二沟槽以及第三沟槽,第一沟槽以及第三沟槽内分别设置有栅极介质层;第一金属插塞、第二金属插塞、第三金属插塞,第一金属插塞位于第一沟槽中,第二金属插塞位于第二沟槽中,第三金属插塞位于第三沟槽中;位于第一层间介质层上的第二层间介质层;间隔设置在第二层间介质层上的第二电极层以及栅极。该功率半导体器件中的沟槽利用金属填充,耐压稳定、电荷低、响应速度快,电阻低,交变信号时反应更快,可以有效降低开关时间。 | ||
搜索关键词: | 功率 半导体器件 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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