[发明专利]一种用于硬X射线成像和能谱分析的测量系统在审
| 申请号： | 202111506767.8 | 申请日： | 2021-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN114200507A | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 林士耀;曹宏睿;胡立群;钟国强 | 申请（专利权）人： | 合肥综合性国家科学中心能源研究院（安徽省能源实验室） |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 江亚平 |
| 地址： | 230000 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于硬X射线成像和能谱分析的测量系统，其特征在于：采用碲锌镉面阵作为探测器、具有高密度信号分配和传输功能的定制PCB背板、紧凑型的前置放大器阵列板卡、以FPGA为核心的多道分析器、基于开源软件QT的采集与控制系统。本发明具备良好的电磁屏蔽和杂散硬X射线屏蔽功能，具备良好的水冷功能，时间分辨率、空间分辨率、能量分辨率高，能够满足恶劣环境下高通量硬X射线测量的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 射线 成像 谱分析 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥综合性国家科学中心能源研究院（安徽省能源实验室），未经合肥综合性国家科学中心能源研究院（安徽省能源实验室）许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111506767.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
