[发明专利]一体化综合测试装置以及基于其的测试方法有效

专利信息
申请号: 202111507398.4 申请日: 2021-12-10
公开(公告)号: CN113922871B 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 邱宇为;马燕;周新亮 申请(专利权)人: 长芯盛(武汉)科技有限公司
主分类号: H04B10/079 分类号: H04B10/079;H04L43/18;H04L43/20
代理公司: 北京维昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11804 代理人: 陈姗姗;崔旭东
地址: 430073 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种一体化综合测试装置以及基于其的测试方法,其中一体化综合测试装置包括:控制单元,其配置成获取关于待测试有源光缆的测试信息,并基于测试信息输出测试指令;低速信号测试单元,其包括子测试单元和信号源,其中子测试单元配置成接收测试指令以及控制信号源输出测试信号,其中测试信号为模拟有源光缆与设备间握手交互用的低速协议信号;接口单元配置成接收且向待测试有源光缆输出所述测试信号以及向子测试单元输出待测试有源光缆的反馈信号;子测试单元还配置成对反馈信号进行测试分析;以及将对反馈信号的分析结果发送至控制单元。通过本发明的方案,能够支持有源光缆的低速协议信号的测试,且有效简化测试操作以及提高测试效率。
搜索关键词: 一体化 综合测试 装置 以及 基于 测试 方法
【主权项】:
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