[发明专利]单元测试方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202111509601.1 | 申请日： | 2021-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN114153742A | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 张成志;朱恒成;魏莉力;盛勤;宋丽红;张兵 | 申请（专利权）人： | 深圳前海微众银行股份有限公司;香港科技大学 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06N3/12 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 李昂;张颖玲 |
| 地址： | 518052 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种单元测试方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：获取第i种群的多个语句集合，每个语句集合包括至少一个语句；语句用于定义模拟对象的行为；根据每个语句对应的变异操作符，对每个语句进行变异操作，得到变异操作结果；对变异操作结果中的两个语句集合进行交叉互换，得到第i+1种群；若确定第i+1种群中存在符合测试用例的测试断言的语句集合，则采用符合测试断言的语句集合定义模拟对象；基于模拟对象对测试用例进行单元测试。基于本申请提供的单元测试方法，在单元测试时提高模拟对象的适用性。 | ||
| 搜索关键词： | 单元测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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