[发明专利]同轴超辐射发光二极管自动耦合台搭载光谱分析仪的方法在审
| 申请号： | 202111517446.8 | 申请日： | 2021-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN114061917A | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 何威威;张润;吕小威;李同宁;游毓麒 | 申请（专利权）人： | 武汉英飞华科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;B23P21/00 |
| 代理公司： | 武汉天领众智专利代理事务所(普通合伙) 42300 | 代理人： | 王能德 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳大道52号*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及超辐射发光二极管制造领域，且公开了一种同轴超辐射发光二极管自动耦合台搭载光谱分析仪，包括同轴SLD自动耦合台机柜，所述同轴SLD自动耦合台机柜内部的底端设置有自动耦合台主机，所述自动耦合台主机上方的两侧皆安装有光功率计和光谱分析仪。该发明，通过当光谱数据不合格时，按设定步长，自动增加驱动电流，但不超过设定的管芯最大工作电流，直至两项均合格进入封焊程序，其中增加驱动电流当输出功率超出最大上限时，需自动降低耦合效率，直至两项均合格进入封焊程序，同轴SLD自动耦合台搭载光谱分析仪后实现输出光功率和光谱特性同步测试，同步筛选，提高生产效率，根据光谱数据执行补偿程序，提高产品合格率。 | ||
| 搜索关键词： | 同轴 辐射 发光二极管 自动 耦合 搭载 光谱分析 方法 | ||
【主权项】：
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