[发明专利]测试时间预测方法及装置、电子设备、存储介质在审
申请号: | 202111526996.6 | 申请日: | 2021-12-13 |
公开(公告)号: | CN114238106A | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 朱元瑞;樊勇兵;黄志兰;林显成;刘荣凯 | 申请(专利权)人: | 中国电信股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;G06F11/34 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 孙宝海;阚梓瑄 |
地址: | 100033 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请的实施例揭示了一种测试时间预测方法及装置、电子设备、计算机可读存储介质。该方法包括:将当前测试环境分别与各个历史测试环境进行相似度计算,得到当前测试环境与历史测试环境之间的环境相似度值;根据环境相似度值从多个历史测试环境中确定出目标历史测试环境;从目标历史测试环境对应的历史测试脚本中确定出与待执行测试脚本之间的脚本相似度值大于预设阈值的目标历史测试脚本;对目标历史测试脚本对应的历史测试时间进行修正处理,得到目标测试时间,并将目标测试时间作为待执行测试脚本在当前测试环境中的执行测试时间。本申请的实施例可以使得测试时间预测更为准确。 | ||
搜索关键词: | 测试 时间 预测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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