[发明专利]一种针对激光测高装置探测精度的仿真方法在审
| 申请号： | 202111538427.3 | 申请日： | 2021-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN114114315A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 张凤萍;陆长平;袁伟;梁影;刘士川;王凤杰;姜毅 | 申请（专利权）人： | 上海无线电设备研究所 |
| 主分类号： | G01S17/88 | 分类号： | G01S17/88;G01S7/497 |
| 代理公司： | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人： | 张双红;张静洁 |
| 地址： | 200233 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种针对激光测高装置探测精度的仿真方法，包括：建立干扰背景几何模型；根据载体运动轨迹方程和激光测高装置偏离量和偏离方位角确定载体与目标交会段载体运动全过程的运动轨迹坐标点矩阵；根据运动轨迹坐标点矩阵求解载体与目标交会段载体运动全过程的轴向方向矢量；根据载体轴向方向矢量求解激光器中的各个通道激光光束探测矢量；解算载体与目标交会段载体运动全过程中各时刻下的每一通道激光光束探测矢量与地面和目标各表面交点，确定每一通道激光探测光斑在地面上的移动轨迹点坐标，给出每一通道激光探测距离信息和高度信息。本发明解决了载体对地探测工作场景多样化、激光测高装置对目标形体敏感以及目标探测识别难度大的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 激光 测高 装置 探测 精度 仿真 方法 | ||
【主权项】：
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