[发明专利]一种预估器件在轨单粒子翻转率参考区间的方法在审

专利信息
申请号: 202111546918.2 申请日: 2021-12-16
公开(公告)号: CN114417683A 公开(公告)日: 2022-04-29
发明(设计)人: 李哲;毕潇;陈雷;王煌伟;武永俊;缑纯良;王亮;郑宏超;张健鹏;徐雷霈;张栩椉;董涛 申请(专利权)人: 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
主分类号: G06F30/25 分类号: G06F30/25;G06F30/17;G06F111/08
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 张辉
地址: 100076 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种预估器件在轨单粒子翻转率参考区间的方法,该方法通过开展地面重离子辐照试验,获取器件单粒子翻转截面(σ)和入射离子参数(LET)的试验数据;对单粒子翻转饱和截面(σsat)、单粒子翻转LET阈值(LETth)、器件敏感区深度(d)、器件器件漏斗长度(F)等参数的区间范围进行预估;在预估范围内对每一个参数进行调节,利用威布尔曲线进行拟合,采用蒙卡仿真工具开展仿真获取在轨单粒子翻转率;最终获取每一个参数与在轨翻转率平均优值的变化关系,从而确定器件在轨单粒子翻转率的参考区间;该方法能够获取器件,尤其是商用器件的在轨单粒子翻转率的参考区间,有效指导宇航器件的选型。
搜索关键词: 一种 预估 器件 粒子 翻转 参考 区间 方法
【主权项】:
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