[发明专利]一种高导热厚膜基片及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111549093.X 申请日: 2021-12-17
公开(公告)号: CN114388491A 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 张超超;唐拓;周恒;刘金丽;陈毅;黄洁;徐永朋;李阳 申请(专利权)人: 贵州振华风光半导体股份有限公司
主分类号: H01L27/01 分类号: H01L27/01;H01L23/367;H01L21/70
代理公司: 贵阳中工知识产权代理事务所 52106 代理人: 刘安宁
地址: 550018 贵州省*** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 一种高导热厚膜基片及其制备方法,属于混合集成电路领域。包括厚膜基片本体、导带或阻带、芯片焊接区、导热凹孔、磁控溅射层、金锡焊料层、铜块、填充层、背面金属化层。导带或阻带、芯片焊接区位于厚膜基片本体正面表面,背面金属化层位于厚膜基片背面,导热凹孔位于厚膜基片背面正对表面芯片焊接区的区域,磁控溅射层为在陶瓷凹孔底部的耐高温金属膜层,金锡焊料层为铜块与凹孔底部的耐高温金属膜层之间的焊接层,铜块位于凹孔中,纳米金浆料填充层位于铜块与凹孔的间隙中。采用激光开凹孔。在不影响其电路载体功能的情况下,通过改变氧化铝厚膜基片的结构,从而增加厚膜基片的导热效率。广泛应用于功率混合集成电路中作高导热性能厚膜基片。
搜索关键词: 一种 导热 厚膜基片 及其 制备 方法
【主权项】:
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