[发明专利]基于机器视觉的LED封装表面缺陷检测方法、装置、介质及设备在审

专利信息
申请号: 202111558995.X 申请日: 2021-12-20
公开(公告)号: CN114235837A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 尹宏鹏;柴毅;李莉建;汤鹏;钟锦涛;唐琪淋 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G01N21/01
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 武君
地址: 400044 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种基于机器视觉的LED封装表面缺陷检测方法,包括:通过线阵相机采集LED封装的料片图像;其中,在所述线阵相机中,相机采用远心镜头;利用预先训练的缺陷检测模型对所述料片图像进行缺陷检测,得到缺陷数据;所述缺陷数据至少用于指标LED封装的缺陷位置;根据所述缺陷位置对LED封装的缺陷进行标记,以完成对LED封装表面缺陷的检测。本发明针对LED封装表面缺陷检测的问题,使用工业线阵相机和远心镜头,获取高质量低畸变的料片图像,结合数字图像处理和深度学习技术,有效提升了检测的鲁棒性和泛化性。本发明能自主完成上下料与缺陷标记,大幅提升检测效率,有效降低生产成本,能够满足多种LED封装的检测需求,大大提升了通用性和实用性。
搜索关键词: 基于 机器 视觉 led 封装 表面 缺陷 检测 方法 装置 介质 设备
【主权项】:
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