[发明专利]一种精准测量试验参数装置及方法在审

专利信息
申请号: 202111559020.9 申请日: 2021-12-20
公开(公告)号: CN114235581A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 李亚丽;白晓良;陈德超;张春芳 申请(专利权)人: 武汉一冶钢结构有限责任公司;中国一冶集团有限公司
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N3/06
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 汪玮华
地址: 430415 湖北省武汉市新*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种精准测量试验参数装置及方法,包括底座、试样水平支撑座、水平测量组件和竖直测量组件,试样水平支撑座包括左支撑杆和右支撑杆,对称设于底座的左右两侧中心,水平测量组件包括一组伸缩杆和水平测量卡尺,一组伸缩杆均匀间隔设于底座后侧,水平测量卡尺固定于伸缩杆上,竖直测量组件包括一组平移杆和竖直测量卡尺,一组平移杆均匀间隔设于底座前侧,与一组伸缩杆一一对应设置,竖直测量卡尺固定于平移杆上,本发明解决了因测量位置和角度偏差带来的最终数值偏差,提高了试验数据的准确性和真实性。
搜索关键词: 一种 精准 测量 试验 参数 装置 方法
【主权项】:
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