[发明专利]基于圆模型的SAR ADC电路测试优化方法有效
| 申请号： | 202111572129.6 | 申请日： | 2021-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN114236365B | 公开（公告）日： | 2022-09-02 |
| 发明（设计）人： | 赖昕栎;杨成林 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/316 | 分类号： | G01R31/316;G01R31/317 |
| 代理公司： | 成都行之智信知识产权代理有限公司 51256 | 代理人： | 温利平 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于圆模型的SAR ADC电路测试优化方法，首先确定SAR ADC电路可使用的测试信号频率数量、开关数量和潜在的故障元件数量，将测试选择向量作为遗传种群中的个体，测试选择向量中包含测试信号频率编码和测试向量，在个体进化过程中，获取每个测试选择向量下每个故障元件的圆模型，将圆模型圆心之间距离的最小值作为测试选择向量的个体适应度值，同时维护一个适应度矩阵用于存储优秀个体，在最终的适应度矩阵中选择最优测试选择向量，然后根据最优测试选择向量的模糊组选择其他测试选择向量，进而确定每次测试的测试信号频率和测试向量。本发明结合故障元件的圆模型和遗传算法，实现了测试参数优选，从而提高故障诊断准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 模型 sar adc 电路 测试 优化 方法 | ||
【主权项】：
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