[发明专利]一种超表面测试装置、测试方法及PB相位测试方法有效
| 申请号： | 202111572426.0 | 申请日： | 2021-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN114371348B | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 罗先刚;罗军;蒲明博;马晓亮;赵泽宇;王宇辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 金怡 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种超表面测试装置、测试方法及PB相位测试方法，所述测试装置包括：第一同轴波导转换器、第二同轴波导转换器、正交模耦合器、极化器、反射波导、矢量网络分析仪(VNA)，两个同轴波导转换器的同轴端与矢量网络分析仪连接，波导端与正交模耦合器连接；正交模耦合器、极化器、反射波导依次相连；反射波导具有用于反射入射圆极化波的反射面。本发明通过采用测试装置可对极化转换反射波束幅值和相位的收集，实现圆极化转换效率和PB(Pancharatnam‑Berry)相位测试。相对于目前常用的自由空间测试法，提出波导测试系统能有效节约样品加工成本，提升测试工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 表面 测试 装置 方法 pb 相位 | ||
【主权项】：
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